일반기술
BIST장치의 크기를 줄이기 위한 단순화로직
아날로그 테스트 패턴으로 삼각파나 램프 파형을 이용하는 BIST에서 선형성이나 이득의 이상유무를 간단하게 판단할 수 있는 회로로서, N비트의 해상도를 가진 ADC로부터 받은 출력을 한 번 미분하는 수단(미도시)과, 상기 미분수단의 출력신호를 입력받아, N비트의 입력 중 일정한 기울기만을 검사하는데 필요한 하위 비트와, 필요하지 않으면서 부호 비트를 포함한 상위 비트로 나누는 수단과, 상기 상위 비트값을 '0'과 비교하여 일치여부를 출력하는 제1비교수단과, 상기 하위 비트값을 이상값 'A' 및 '0'과 비교하여 그 일치여부를 출력하는 제2비교수단 및 제3비교수단 및 상기 제1~3비교수단에서 출력된 결과에 따라 테스트대상의 상태를 파악하는 수단을 포함하여 구성되는 단순화로직.
기술정보
- 기술분류
- 통신 > 기타 전파 기술
- 보유기관
- 연세대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2007-12-27
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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