일반기술
내장된 자체테스트 기법을 위한 결정패턴 생성기
본 발명은 BIST(내장된 자체테스트 기법)에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 적은 비트수를 갖는 LFSR로 많은 패턴을 생성할 수 있기 때문에 의사임의패턴 LFSR의 비트수를 줄이므로써 하드웨어 오버헤드를 줄일 수 있으며 LFSR의 비트수가 작아짐에 따라 CUT에 가하는 패턴수도 줄어 테스트에 필요한 시간을 단축시킬 수 있는, BIST용 결정패턴 생성기에 관한 것이다. 본 발명은 의사임의패턴을 생성하는 의사임의패턴 생성수단; CUT에 가해진 패턴의 수를 계수하는 패턴계수기(PC); 테스트패턴을 주사경로에서 시프트시키기 위해 필요한 비트수를 계수하는 비트계수기(BC); 상기 PC와 BC의 값에 따라 의사임의패턴의 값을 반전시키거나 그대로 통과시키는 결정패턴 포함기(EF)로 구성된다.
기술정보
- 기술분류
- 화학공정 > 기타 분자·나노 화학공정 기술
- 보유기관
- 연세대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2007-12-27
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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