일반기술
발광다이오드 환형광원의 고휘도 평행광 발생을 위한 발광다이오드의 입사각 측정 장치와 측정방법
본 발명은 평행광 발생을 위한 환형광원 설계 시 고려되는 발광다이오드(LED)의 입사각 측정 장치와 측정방법에 관한 것으로서, 보다 상세히는, LED를 이용한 환형광원의 응용분야 특성에 따른 광원설계 이전에 LED 환형광원의 고휘도 평행광 발생을 위한 LED의 입사각을 측정하는 LED 입사각 측정 장치와 측정방법에 관한 것이다. 조도 프로파일 정보를 분석함으로서, 고휘도 및 균일한 조도 분포를 얻기 위해 환형광원 설계 시 고려되는 환형광원 외주면의 직경, LED의 발산각과 광학계의 초점거리에 의존적인 LED의 입사각에 따른 반사판상의 조도분포를 정량화할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 보건·의료 > 기타 의료공학
- 보유기관
- 연세대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2007-12-27
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.