일반기술
이중포트 메모리를 위한 테스트 방법
본 발명은 이중포트 메모리를 위한 테스트 방법에 관한 것이다. 본 알고리듬은 이중포트 메모리에서 발생할 수 있는 모든 결함에 대하여 IFA(Inductive Fault Analysis)를 통하여 다양한 고장 모델을 제시한 논문을 바탕으로 하여 단일 포트 관련 고장 모델과 이중포트 관련 고장 모델을 고려한 이중포트 메모리를 위한 테스트 알고리듬이다. 본 알고리듬은 단일 포트 메모리를 위한 대표적인 테스트 알고리듬인 마치C-를 기반으로 하였으며, 이중포트 메모리에서 발생 가능한 고장모델들을 추가하여 마치C-를 보완하고, 변형하여 이중포트 메모리에 적합하도록 고안된 새로운 알고리듬이다.
기술정보
- 기술분류
- 정보 > 기타 소프트웨어
- 보유기관
- 연세대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2007-12-27
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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