일반기술

다중고착 고장 진단을 위한 매칭 방법

본 발명은 다중고착 고장 진단법에 관한 것으로, 단일고착 고장 시뮬레이터를 사용함에도 정확하게 다중고착 고장을 진단할 수 있도록 한다. 본 발명의 다중고착 고장 진단법은 후보고장의 점수 계산, 완전일치공통부분 테이블 생성, 최종 고장 후보 집합의 결정 과정을 거친다. 후보고장의 점수 계산 과정과 완전일치공통부분 테이블 생성 과정은 고장 시뮬레이션 과정 중에 병렬적으로 진행된다. 고장의 점수 계산 과정은 고장의 경우를 완전일치공통부분, 공통부분, 잘못된 예측, 예측실패, 무고장 영역의 5가지 경우로 나누고 각각의 경우에 따른 점수 계산법으로 후보고장의 점수를 계산한다. 고장의 점수가 높을수록 후보고장과 실제 결함의 유사도가 높음을 의미한다. 완전일치공통부분 테이블 생성 과정은 실제 고장이 낮은 점수로 계산될 경우에 진단을 하기 위해서 필요하게 된다. 고장 시뮬레이션이 끝나게 되면, 후보고장의 점수 계산, 완전일치공통부분 테이블 생성과정이 종료되고 이전 단계에서 계산된 후보고장의 점수와 완전일치공통부분 테이블로 최종 고장 후보 집합을 결정하게 되어 이를 최종 출력하게 된다. 다중고착 고장을 진단하기 위하여 다중고착 시뮬레이션을 사용할 경우에는 고장 진단 시간이 오래 걸리며, 단일고착 고장 시뮬레이터를 사용할 경우에는 정확도가 떨어지는 문제점이 있으나 본 발명은 이러한 단점을 해결하였다.

기술정보

기술분류
전기·전자 > 기타 반도체
보유기관
연세대학교
기술유형
일반기술
등록일
2007-12-27
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

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