일반기술

심볼릭 시뮬레이션을 이용한 스캔 체인 고장 진단 법

심볼릭 시뮬레이션을 이용한 스캔 체인 고장 진단 법

기술정보

기술분류
전기·전자 > 기타 전자요소 기술
보유기관
연세대학교
기술유형
일반기술
등록일
2007-12-27
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

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