일반기술 심볼릭 시뮬레이션을 이용한 스캔 체인 고장 진단 법 심볼릭 시뮬레이션을 이용한 스캔 체인 고장 진단 법 기술정보 기술분류 전기·전자 > 기타 전자요소 기술 보유기관 연세대학교 기술유형 일반기술 등록일 2007-12-27 데이터 갱신일 정보 없음 상세설명 정보 없음 관련 특허 등록된 관련 특허가 없습니다.