일반기술
경계주사 테스트용 테스트벡터의 생성 방법
*기술의 개요 해당 기술은 경계주사 테스트 기법에 사용되는 테스트벡터를 생성하는 방법에 관한 것으로서, 테스트벡터를 전체 네트에 대해서 Ng 개의 그룹으로 분할하고, 테스트벡터의 길이를 그룹비일치 시퀀스, 그룹일치 시퀀스, 간격 시퀀스로 나누는 테스트벡터 생성방법에 관한 것이다. 본장의 기술은 인쇄회로기판의 상호연결선을 테스트하는 경계주사 기법에 있어서, n개의 네트를 Ng 개의 그룹으로 분할하고 테스트벡터의 길이를 경계주사 테스트용 셀의 개수에 따라 그룹비일치 시퀀스, 그룹일치 시퀀스, 간격 시퀀스로 나누어, 종래의 워킹원 시퀀스와 마찬가지로 aliasing이나 confounding의 고장증후 없이 고장검출 및 진단이 가능하면서도, 네트 수가 증가할수록 테스트벡터의 길이가 비약적으로 줄어들 수 있는 테스트벡터의 생성방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. *기술의 효과 해당기술은의 분할그룹 워킹원 시퀀스에서는 종래의 워킹원 시퀀스와 마찬가지로 aliasing이나 confounding의 고장증후 없이 고장검출 및 진단이 가능하면서도, 네트 수가 증가할수록 테스트벡터의 길이가 비약적으로 줄어든다. 예를 들어서 네트가 100,000개인 경우 분할그룹 워킹원 시퀀스는 종래의 워킹원 시퀀스에 비해 약 1.2%의 PTV만이 필요하다. 아래 표에서는 종래의 워킹원 시퀀스와 본 발명의 분할그룹 워킹원 시퀀스의 PTV 개수를 비교하고 있다. 일반적으로 테스트 비용은 테스트 시간과 밀접한 관계를 갖는다. 특히 경계주사 환경에서는 그 구조가 갖는 직렬성이 테스트에 드는 시간을 길게 하는 단점을 갖고 있기 때문에 테스트벡터의 길이를 줄이는 것은 경제적인 측면에 있어서도 유용한 일이라 할 수 있을 것이다. 본 발명에 의한 인쇄회로기판의 상호연결선 테스트 시퀀스는 상술한 바와 같이 종래의 방법에 비해서 상당한 테스트 크기의 감소를 기대할 수 있다. 이런 측면에서 최근과 같이 짧은 라이프사이클로 변하는 전자 시장을 생각해 볼 때 경제적으로 많은 비용의 감축을 기대할 수 있을 것이다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 연세대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2007-12-28
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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