일반기술

전단간섭계를 이용한 면외변형의 정량계측방법

본 발명은 전단간섭계를 이용하여 대상물의 변형의 기울기를 측정하고, 이를 수치적분을 통하여 대상물에 발생하는 결함의 가시화와 면외변형을 정량적으로 계측함으로써 기존 ESPI를 대체하고, 산업적 활용도를 높일 수 있도록 한 전단간섭계를 이용한 면외변형의 정량계측방법에 관한 것이다. 이를 위하여, 본 발명은 전단간섭법으로 대상물체의 변형 전 이미지를 획득하는 단계와, 전단간섭법으로 대상물체의 변형 후 이미지를 획득하는 단계와, 획득된 변형 전 이미지와 변형 후 이미지를 감산처리한 후 변형 전 이미지와 변형 후 이미지의 평행이동 값으로 수치적분함으로써 면외변형을 계측하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 한다. 상기의 기술적 구성에 따르면, 전단간섭법을 이용하여 대상물에 발생하는 면외변형을 정량적으로 측정함으로써, 전단간섭법의 장점인 간단한 간섭계의 구성과 저렴한 레이저의 사용, 그리고 외란에 강인한 장점을 바탕으로 전단간섭계의 산업적 현장적용성을 높일 수 있고, 비파괴 검사기법으로써 스페클 패턴 간섭법이 안정적으로 적용될 수 있다는 효과가 있다.