일반기술
바운더리 스캔 테스트 칩 딜레이 측정시스템 및 그 측정방법
- 개요 본 기술은 보드에 실장된 체 테스트가 가능한 바운더리 스캔 테스트 칩(BOUNDARY SCAN TEST CHIP)의 딜레이 측정시스템 및 그 방법에 관한 것임.- 특징 보드에 실장된 바운더리 스캔 칩의 연결상태를 파악하기 위하여 복수개의 바운더리 스캔 칩으로 패턴신호를 출력하고 칩을 통과한 패턴신호를 입력받는 메인 컨트롤러가 보드 또는 전송로 상에서 발생하는 신호 딜레이를 고속클록신호를 통해 측정하고 이를 보정할 수 있도록 함.- 효과 전송로 상의 딜레이의 영향을 완전히 제거하고, 메인 컨트롤러를 정상적으로 동작시킴.
기술정보
- 기술분류
- 정보 > 기타 정보
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-09
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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