일반기술
바운더리 스캔 테스트 시스템 및 그 딜레이 보정방법
- 개요 본 기술은 바운더리 스캔 테스트 시스템 및 그 딜레이 보정방법에 관한 것임.- 특징 보드에 실장된 칩의 연결상태 등을 검사할 수 있는 바운더리 스캔 테스트(BOUNDARY SCAN TEST) 시 발생하는 보드 및 케이블 등에 의한 딜레이에 대한 사전지식이 없어도 효과적으로 TDO가 샘플링될 수 있도록 복수 시간간격으로 딜레이된 딜레이 클록신호를 생성하고 그 중 하나를 TDO 샘플링 시 사용되는 보정 클록신호로 선택함으로써, 보드에 실장된 칩과 칩을 검사하는 컨트롤러가 하나의 보드에 실장되지 않고 떨어져 있는 경우에도 딜레이를 측정할 수 있도록 하는 동시에 딜레이를 보정한 보정 클록신호를 통해 보드에 실장된 칩을 통과한 패턴신호를 샘플링하고 읽어 들임.- 효과 딜레이로 인한 에러를 손쉽고 효율적으로 방지.
기술정보
- 기술분류
- 정보 > 기타 정보
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-09
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.