일반기술
반사형 홀로그래픽 광학 소자 특성 측정 시스템
반사형 홀로그래픽 광학 소자의 최대 회절 효율을 주는 파장, 각 및 분광 선택도, 격자 벡터의 방향 등에 관한 정보를 실시간 인-라인(in-line)으로 동시에 육안으로 측정할 수 있는 시스템에 관한 것으로서, 피측정 홀로그래픽 광학 소자의 Bragg 조건을 만족하는 입사각보다 큰 각도의 퍼짐각을 가지는 발산 또는 확산빔을 이용하여, 입사빔의 회절에 의한 반사로 피측정 홀로그래픽 광학 소자를 투과한 빔의 강도 분포에 생기는 어두운 링 패턴의 특성을 영상 처리에 의해 분석함으로서 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 측정하기 위한 것이며, 이를 구현하기 위한 본 기술에 따른 시스템은 다파장 발진 레이저 광원, 확산판, 광각 대물렌즈 및 컴퓨터 등으로 구성되어 있다.
기술정보
- 기술분류
- 통신 > TV 방송
- 보유기관
- 한국과학기술연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-11
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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