일반기술
리드검사용 광학계
본 기술은 리드검사용 광학계에 관한 것으로서 특히, 남땜외관 검사장치 또는 부품장착 검사장치 등에 적용되어 J리드 부품의 상태를 검사할 수 있도록 하는 리드검사용 광학계에 관한 것이다.- 특징하나의 카메라를 이용하여 임의의 각도에 장착하니 J리드 부품의 납땜점 및 납땜후의 영상을 획득할 수 있어서 J리드 부품의 검사가 용이하게 이루어지게 되는 효과가 있으며, 광학계의 크기를 최소화할 수 있다.J리드 부품의 위치방향에 관계없이 카메라에서 동일한 영상영역을 획득함으로써 카메라의 촬영시간을 단축시킬수 있으며, 그에 따라 부품의 검사시간을 단축시킬 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-15
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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