일반기술
비동기 시스템의 스캔 테스트 장치
본 기술은 비동기식 시스템에 관한 것으로 특히, 비동기 시스템의 스캔 테스트 장치에 관한 것이다.- 특징동기식 시스템에 적용되는 스캔 테스트를 비동기 시스템에서 응용할 수 있으므로 시스템의 성능 및 신뢰성을 향상시킬 수 있다.요구 신호와 응답 신호에 의해 동작하는 비동기식 시스템이 클럭으로 동작하는 동기 시스템과 같이 동작하도록 구현하여 시프트 인과 시프트 아웃이 가능하도록 함으로써 스캔 테스트가 가능하게 한다.동기식 시스템에서만 행하여 지고 있는 ATPG 벡터를 이용한 테스트를 수행할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-16
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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