일반기술
타이밍신호 에지 및 지연 레인지 제어장치
본 기술은 메모리 및 디바이스를 테스트하는 모든 장비에 필수적으로 사용되는 타이밍 신호의 에지 및 지연 레인지(Range) 제어에 관한 것으로, 특히 디바이스 언더 테스트(Device Under Test)에 공급되는 타이밍 신호의 에지 위치(Placement)를 최대 10ps까지 제어함으로써 테스트 장비의 성능을 향상시키고 디바이스를 고속으로 테스트함과 동시에 스큐(Skew) 테스트도 가능토록 한 타이밍신호 에지 및 지연 레인지 제어장치에 관한 것이다.- 특징10ps까지 지연 레인지를 컨트롤할 수 있기 때문에 매우 정밀한 타이밍 신호를 발생할 수 있는 이점이 있으며, 더불어 정확하고도 고속으로 디바이스의 테스트도 가능하다.부가적인 회로 구성없이 단지 저항만을 이용하여 지연 레인지를 임의로 가변할 수 있어 스큐 테스트에 이용되는 매우 정밀한 타이밍 신호도 발생 가능하다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-17
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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