일반기술
레이저 수리 장치 및 방법
- 개요 본 기술은 전극패널을 관측하여 불량 전극 발생 시 레이저를 조사하여 전극의 불량부위를 용해 증발시켜 제거하는 레이저장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 관측용 광량이 부족한 경우에도 전극패널의 관측이 가능한 레이저 수리장치 및 방법에 관한 것임.- 특징 전극패널에 레이저빔을 조사시키는 레이저발진기와, 레이저발진기와 전극패널 사이에 배치되어 조사되는 레이저를 전극패널의 일측에 집광시키는 집광수단과, 전극패널에 가시광선을 조사하는 조명수단과, 레이저빔을 투과시키거나 전극패널에 반사되는 가시광선을 반사시키는 빔분할기와, 전극패널에 반사되는 가시광선을 전반사시키는 전반사경과, 빔분할기 또는 전반사경에 반사된 가시광선을 통해 전극패널을 관측하는 관측수단과, 빔분할기 또는 전반사경을 레이저빔의 조사선상에 선택적으로 위치시키는 절환수단을 포함하여 구성됨.- 효과 반사율이 뛰어난 전반사경으로 용이하게 교환할 수 있어 전극패널을 쉽게 관측할 수 있음.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-22
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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