일반기술

프레넬 영역 안테나 측정기술

<기술개요및특징>본 기술은 안테나측정시스템 고도화 기술개발 과제의 결과물로써, 프레넬 영역에서 안테나 방사패턴, 이득 등의 특성을 측정하는 기술이며, 높이 변화법, 파이변화법과 유한거리 방사패턴 변환법 등이 있음.본 기술은 프레넬영역에서 안테나를 측정하는 기술을 이전하는 것으로써, 안테나 측정시스템 관련업체가 연구결과를 상용으로 제작 및 판매할 수 있도록 지원하는 것을 목적으로 한다.<활용방안 및 기대성과>원역장 조건을 만족하지 못하는 챔버 내에서 전기적 대형 안테나를 기존의 원역장 측정시스템과 시설을 활용하여 안테나 원역장 방사패턴과 이득 등을 측정할 수 있다.원역장 특성이 필요할 경우, 근역장 측정시설이나 컴팩레인지 측정시설보다도 본 기술을 활용한 원역장 챔버가 가격 경쟁력이 높다.거리에 따른 전계값 획득이 가능하여 측정시설에 거리에 따라 스캐너를 움직이는 시스템이 불필요하다.<기술이전범위>안테나 프레넬 영역 측정 알고리즘 및 S/W - 높이변화법 알고리즘 S/W - 파이변화법 알고리즘 S/W - 유한거리 방사패턴 변환법 알고리즘 S/W