일반기술
반도체칩의 시험 장치
본 기술은 반도체칩의 시험 장치에 관한 것으로, 적어도 하나 이상의 반도체칩 시료를 고정하는 반도체칩고정부와, 사용자의 선택에 따라 반도체칩고정부에 고정된 반도체칩의 동작주기를 결정함과 아울러 그 반도체칩의 출력부하를 결정하여, 가변적인 반도체칩의 시험조건을 제공하는 입출력부하조정부와, 입출력부하조정부의 시험조건에 따른 반도체칩의 출력전압 또는 출력전류를 사용자가 인식할 수 있는 데이터로 변환하여 표시하는 시험결과표시부를 포함한다. 이와 같은 구성의 본 기술은 전원의 공급주기를 조절하고 출력부하량을 조절할 수 있어 단일한 장치를 사용하여 다양한 조건으로 반도체칩의 신뢰성과 가속 수명 시험을 수행할 수 있는 효과가 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한양대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-24
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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