일반기술
시스템 온 칩 테스트 장치 및 그 방법
본 기술은 시스템 온 칩 테스트 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 전력 소모 측정 모델인 이중천이행렬(WTM)이 최소가 되도록 테스트 패턴의 Don’t-care를 소정 논리비트로 할당하여 저전력 테스트 패턴을 생성하고, 저전력 테스트 패턴을 BXOR(Bit-wise XOR)변환하고, BXOR 변환된 저전력 테스트 패턴을 FDR 방식을 통해 압축하여 압축 테스트 패턴을 발생하고, 압축 테스트 패턴을 압축해제한 후 역 BXOR 변환과정을 통해 테스트 패턴으로 변환하여 테스트함으로써, 전력 소모와 테스트 패턴의 양을 동시에 줄이기 위한 것이다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한양대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-28
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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