일반기술
온/오프 버스 브리지를 이용한 칩 테스트 방법 및 장치
본 기술은 온-오프 칩 브리지를 이용한 칩 테스트 장치 및 방법이 개시된다. 개시된 장치는 온/오프-칩 브리지에 구비되며, 외부 테스트 장비로부터 테스트 데이터를 수신하며, 수신된 데이터가 온-칩 마스터에 제공되도록 제어하는 테스트 컨트롤러, 테스트 컨트롤러로부터 출력되는 테스트 데이터 및 오프-칩 데이터를 온-칩 마스터로 멀티플렉싱하는 멀티플렉서를 포함하되, 온-칩 마스터는 테스트 데이터를 테스트 대상이 되는 코어의 프로토콜에 상응하는 데이터로 변환하여 테스트 대상이 되는 코어로 전달한다.
기술정보
- 기술분류
- 통신 > 기타 통신
- 보유기관
- 한양대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-29
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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