일반기술
적외선 광 검출기
기술의 개요 - 본 기술은 냉각장치 및 고품질의 양자우물 형성의 필요성을 단순화시키기에 적합하도록 한 델타 도핑된 반도체를 이용하는 적외선 광 검출기를 제공한다. 기술의 특징 - 본 기술은 GAAS, 또는 INGASP 또는 INP로 된 반도체 기판상에 양자 장벽을 형성하기 위해 복수개의 델타 도핑층으로 형성되는 델타 도핑 반도체층과, 델타 도핑 반도체층 위에 전위 장벽을 낮추기 위해 형성되는 고농도의 제1 도전형 반도체층, 반도체층 상에 형성된 캠용 고농도 제1 도전형 반도체층, 반도체층 상에 형성된 전극으로 구성되어 있는 것이 특징이다.기술의 효과 - 본 기술은 델타 도핑층의 도핑 농도를 조절함으로써 감지되는 효과를 도출한다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 반도체
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-30
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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