일반기술

지연셀을 이용한 아날로그-디지털 변환기 및 아날로그-디지털 변환 방법

본 기술은 전압 영역에서의 신호를 시간 영역에서의 신호로 변환하여 아날로그-디지털 변환하는 방식의 아날로그-디지털 변환기 및 아날로그-디지털 변환 방법에 관한 것이다. 본 기술은 아날로그 입력 신호를 N비트 디지털 신호-여기서 N은 양의 정수임-로 변환하는 아날로그-디지털 변환기에 있어서, 복수의 서로 다른 기준 전압을 생성하는 기준 전압 발생부, 아날로그 입력 신호의 크기와 복수의 기준 전압들 각각의 크기와의 차이를 입력되는 클럭의 지연 시간 차이로 변환시키는 지연부, 클럭의 지연 시간 차이를 검출하여 검출 신호를 생성하는 위상 검출기 및 검출 신호를 입력받아 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라 증가되는 N비트 디지털 신호로 변환하는 코드 생성부를 포함하는 것을 특징으로 한다.종래 프리 엠프를 이용하여 구현되는 다수의 비교기로 이루어진 아날로그 디지털 변환기에 비하여 전류 소모가 감소하여 아날로그-디지털 변환기의 전력 소모 및 칩면적을 크게 줄일 수 있다. 또한, 종래 비교기를 사용하는 경우에 비하여 신호대 잡음비(SNR) 및 다이나믹 레인지를 높일 수 있고, 비교기의 옵셋 전압에 의한 영향을 줄일 수 있다.