일반기술

저장 장치의 오류 발생 방법 및 오류 발생 위치의 선택 방법

본 기술은 저장 장치의 오류 발생 방법 및 오류 발생 위치의 선택 방법에 관한 것이다. 본 기술은, 저장 장치에 물리적 오류를 발생시키기 위한 오류 발생 위치가 선택되는 위치 선택 단계 및 선택된 오류 발생 위치에 해당하는 오류 정정 부호(ECC: Error Correction Code)가 기록된 영역에 더미 데이터(dummy data)를 기록함으로써 오류 정정 부호를 변경하는 ECC 변경 단계를 포함하는 저장 장치의 오류 발생 방법과, 저장 장치의 오류 발생 방법에 이용될 수 있는 오류 발생 위치의 선택 방법을 제공한다.본 기술에 따른 저장 장치의 오류 발생 방법에 의하면, ECC 영역의 오염과 같이 장치에 실제 접근하여 물리적 오류를 발생시킴으로써 저장 장치를 구비한 시스템에 대한 검증의 신뢰성과 정확성을 높일 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 기술에 따른 저장 장치의 오류 발생 방법에 의하면, 저장 장치에 직접적인 물리적 오류를 발생시킴으로써 시스템의 종류에 상관없이 저장 장치를 탑재하는 모든 시스템에 적용할 수 있는 효과가 있다.