일반기술
저장 장치의 오류 발생 시스템
본 기술은 저장 장치의 오류 발생 시스템에 관한 것이다. 본 기술은, 저장 장치(storage device)에 물리적 오류를 발생시키기 위한 오류 발생 위치를 선택하고, 오류 발생 위치에 해당하는 오류 정정 부호(ECC: Error Correction Code)가 기록된 영역에 더미 데이터(dummy data)를 기록함으로써 오류 발생 위치에 물리적 오류를 발생시키는 오류 발생 장치 및 오류 발생 장치와 전기적으로 연결되기 위한 제1 인터페이스(interface)와, 검증 대상 시스템과 전기적으로 연결되기 위한 제2 인터페이스와, 검증 대상 시스템으로부터 분리된 검증 대상 시스템의 저장 장치와 전기적으로 연결되기 위한 제3 인터페이스와, 오류 발생 장치 및 검증 대상 시스템이 제3 인터페이스에 연결되는 저장 장치에 억세스할 수 있도록 신호 처리하는 메인 보드(main board)를 구비하는 인터페이스 장치를 포함하는 저장 장치의 오류 발생 시스템을 제공한다.본 기술에 의하면, 저장 장치에 물리적 오류를 발생시키고 이에 대한 시스템의 강인성 및 신뢰성을 분석 및 검증하기 위해 시스템과 저장 장치의 탈부착을 반복할 필요가 없는 효과가 있다.본 기술에 의하면, 저장 장치를 구비한 검증 대상 시스템에 탑재된 다양한 애플리케이션 및 파일 시스템이 저장 장치의 다양한 물리적 오류에 대해 어떠한 동작을 일으키는지를 실시간으로 분석할 수 있는 효과가 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한양대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-31
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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