일반기술
백 라이트 유닛 검사 장치
- 개요 본 기술은 백 라이트 유닛 검사 장치에 관한 것임.- 특징 검사하려는 백 라이트 유닛에 휘도 향상용 필름이 형성되어 있는 경우 증가된 휘도로 인해 백 라이트 유닛의 결함이 검출되지 않는 것을 방지하기 위하여 편광축이 휘도 향상용 필름에 휘도 향상용 필름과 동일하거나 90 도 차이가 나는 편광수단을 형성함.- 효과 휘도 향상용 필름과 결함을 통과하는 빛을 선택적으로 투과시켜 결함이 존재하는 부분을 용이하게 검출할 수 있음.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-01-31
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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