일반기술
디지털 미세 미러소자를 이용한 전반사 프리즘계
본 기술은 디지털 미세 미러소자(DMD)를 이용한 전반사 프리즘에 관한 것으로, 특히 입사광의 손실을 감소함과 아울러 박형화하기 위한 전반사 프리즘에 관한 것이다.- 특징입사되는 입사측의 프리즘 구조를 개선하여 제1 프리즘 내에서의 반사를 없게 하여 종래의 TIR 프리즘에 대비하여 프리즘들에서의 광반사를 두 번에서 한 번으로 줄임으로써 광손실을 줄일 수 있다.DMD를 TIR 프리즘의 측면에 설치함으로써, 박형화의 TIR 프리즘을 제조할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-02-12
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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