일반기술
ERIS v3.0(ETRI Reliability Information System : ETRI 신뢰성정보시스템)
- MIL-HDBK-217 의 Part Stress Analysis 방법에 따른 전자부품 및 회로팩 고장률 계산 기술- 개발 시스템의 Functional Block Diagram 분석을 통한 신뢰성 모델링 기술- ERIS v3.0 를 통한 시스템 신뢰도 예측 기술- ERIS v3.0 로부터 도출된 개발 시스템 회로팩의 계산된 고장률을 기초로 시스템 신뢰도 예측(Reliability Prediction), 보전도 예측(Maintainability Prediction), 예비 회로팩 수량 계산(Spare Provisioning) 등의 신뢰성 분석 업무가 패키지화 되어 있어 활용성과 데이타의 Consistancy를 유지하는 효과가 커서, 분석 결과의 정확성을 높임- 회로팩 고장률 데이타를 활용해 회로팩의 최적 Burn-In 시간 결정
기술정보
- 기술분류
- 통신 > 기타 무선·이동통신
- 보유기관
- 한국전자통신연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2000-11-22
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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