일반기술
PDP 전극의 단락/개방 유무검사장치 및 방법
기술의 개요 - 본 기술은 PDP 제조라인에서 상, 하판의 글라스(glass)에 전극을 형성한 후 전극을 스캐닝하여 불량 전극이 검출되면 이를 수정라인에 전송함으로써, PDP 제조공정 도중 불량 전극을 검출하여 수리할 수 있는 PDP 전극의 단락/개방 유무 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.기술의 효과 - 본 기술은 제품이 완성되기 전에 전극의 불량 유무를 검출하여 조치할 수 있기 때문에 제품 수율을 향상시킬 수 있는 효과를 도출한다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-02-14
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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