일반기술

디바이스 테스트용 타이밍 신호 발생장치 및 방법

기술의 개요 - 본 기술은 디바이스 언더 테스트(DUT : Device Under Test)에 공급되는 타이밍 신호의 에지(Edge)를 정밀하게 제어함으로써, 고속의 디바이스를 고속으로 테스트하기에 알맞는 타이밍 신호를 발생토록 한 디바이스 테스트용 타이밍 신호 발생장치에 관한 것이다.기술의 특징 - 본 기술은 기준으로 발생된 타이밍 신호의 하강 에지와 타이밍 신호의 상승 에지의 크기를 비교하고 그 결과에 따라 하강 에지와 상승 에지를 논리조합하기 위한 선택신호를 발생하며, 그 선택신호에 따라 지연된 하강에지 및 상승 에지를 논리조합하여 그 결과치를 타이밍 신호로써 발생하는 것을 특징으로 한다.기술의 효과 - 본 기술은 고속의 디바이스 테스트에 알맞는 타이밍 신호를 제공하게 되며, 또한 타이밍 신호의 상승 에지와 하강 에지를 제어하여 타이밍 신호를 발생함으로써 정밀한 타이밍 신호의 발생을 가능케 한다.