일반기술

주사형 터널링 현미경의 피드백 회로

주사형 터널링 현미경의 스펙트로스코피(spectroscopy)기능을 향상시키기 위해서는 피드백 회로중에서 샘플-홀드 기능의 개선이 필수적이다. 본 발명은 아날로그 스위치를 사용하여 샘플-홀드 기능을 향상시키기 위한 주사형 터널링 현미경의 피드백(Feedback)회로에 관한 것이다. 이를 위해 본 발명은 탐침 위치 전압을 입력으로 하여 피드백시키는 주사형 터널링 현미경의 피드백 회로에 있어서, 상기 터널링 전류전압과 피드백회로의 최종 출력 전압중에서 하나를 선택하여 출력함으로써 피드백 기능을 제어하는 스위칭 수단을 더 포함하여 구성되었다.본 발명은 첫째, 피드백 회로가 끊어진 후 오랜시간이 경과되어도 스캐너의 Z축에 걸리는 전압의 변화가 없으므로 스펙트로스코피의 실험시 오랜시간에 걸친 정밀한 측정을 할 수 있고,둘째,Z축 전압을 컴퓨터의 디지탈/아날로그 변환기로 제어할 수 있으므로, 샘플-홀더에 필요한 큰 용량을 갖는 캐패시터가 필요하지 않아 피드백 회로의 신뢰성과 속도를 향상시킬 수 있고, 셋째, 아날로그 스위치에 연상증폭기의 비반전 입력단을 통해 탐침 위치 제어 전압을 출력시킬 수 있으므로 서피스 모디피케이션(Surface Modification)을 위해서 탐침 시료간 거리를 임의로 정밀하게 제어할 수 있는 효과가 있다.

기술정보

기술분류
전기·전자 > 기타 산업용 전기전자
보유기관
한국표준과학연구원
기술유형
일반기술
등록일
2000-11-22
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

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