일반기술
광기록매체 및 결함 영역 관리 방법
본 기술은 재기록 가능한 광기록매체에 관한 것으로, 특히 결함 영역(Defect Area)을 관리할 수 있는 광기록매체 및 결함 영역 관리 방법에 관한 것이다.- 특징실시간 기록이 필요한 데이터가 입력되면 SDL 사용시 스키핑 방법으로 데이터를 광 디스크에 기록하면서 리니어 대체 방법으로 발생된 결함 블록의 정보와 구별되는 스키핑된 결함 블록의 위치 정보를 저장하고 필요시 이를 호스트에 알림으로써, 재생시 호스트가 스키핑된 블록의 위치 정보를 알지 못해 발생했던 에러를 방지할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-02-26
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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