일반기술
비파괴 검사 장치 및 검사 방법
- 개요 본 기술은 자기장을 이용하여 표시 소자의 패널을 검사하는 방법에 있어서 효율적이고 간단한 자기 비파괴 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것임.- 특징 검사 패널에 인접하여 자기장을 발생하는 코일과, 코일에 전류를 가해주는 신호 발생기와, 검사 패널에서 그리드와 연결되어 형성되어 있는 쇼팅 바와, 쇼팅 바와 전기적으로 접촉하는 커넥터와, 커넥터와 연결되며 패널에서 발생되는 신호를 증폭하는 증폭기를 포함하여 이루어진다. 여기서, 검사 패널을 센서로 하여 자기장을 발생시키는 코일로 스캔함.- 효과 쇼트된 위치를 용이하게 알아낼 수 있어 공정 간에 전수 검사를 통해 효율적으로 수율 관리를 할 수 있으며, 고주파의 자기장을 사용하지 않아도 패널에서의 감도가 뛰어나 쇼트된 위치가 여러 곳인 경우에도 뛰어난 변별력을 가지는 효과가 있음.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-02-27
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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