일반기술

결함이 적은 질화물 반도체 박막 성장 방법

- 개요 본 기술은 결함이 적은 질화물 반도체 박막 성장 방법에 관한 것임.- 특징 상부에 스트라이프 형태의 홈이 주기적으로 형성된 기판에 버퍼층과 1차 질화물 반도체 박막을 형성하고, 1차 질화물 반도체 박막에서 결함밀도가 높은 영역은 식각하고, 결함밀도가 낮은 영역은 주기적인 스트라이프 형태의 패턴을 형성한 후, 이 패턴을 이용하여 2차 질화물 반도체 박막을 측면 성장시킴으로써, 결함밀도가 낮은 질화물 반도체 박막을 제조함.- 효과 우수한 결정질을 갖는 질화물 반도체 박막을 사용하여 제조된 광소자나 전자소자는 고효율, 고출력, 고신뢰성의 특성뿐만 아니라 높은 수율을 얻을 수 있음.

기술정보

기술분류
전기·전자 > 기타 전기/전자
보유기관
한국산업기술진흥원
기술유형
일반기술
등록일
2008-02-27
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

관련 특허

등록된 관련 특허가 없습니다.