일반기술
다종 금속 표면의 검사 및 측정장치
기술의 개요 - 본 기술은 다종 금속 표면의 검사 및 측정장치에 관한 것이다.기술의 특징 - 본 기술은 서로 다른 특정 파장 범위의 2개 이상의 광을 적어도 2개 이상의 방향에서 피조명물에 조사하는 조명부와, 조명부에서 조사되어 피조명물에서 반사된 광을 촬상하는 선형 고체 촬상 소자로 구성되어 있다.기술의 효과 - 본 기술은 빠른 시간내에 다종 금속 표면의 검사 및 측정이 이루어 질 수 있도록 하는 효과를 도출한다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-02-28
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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