일반기술

전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

본 발명은 전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를 추출하는 방법 및 그 장치를 개시한다. 본 발명에 의하면, 전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를 추출하는 방법에 있어서, 물체가 XYZ 직각 좌표계에서 X축에 수직인 평면, Y축에 수직인 평면 및 Y-Z 평면에서 Z축으로부터 45도의 각을 이루는 평면으로 각각 투영된 2차원 좌표들을 센싱하며, 각 2차원 좌표들로 구성되는 3개의 화면이 겹치는 부분 각각을 좌/우 영상의 디지털화된 데이터 중 한 픽셀의 데이터를 중심으로 다른 화면의 동일 픽셀을 찾는 대응점을 구하고 이를 바탕으로 변위(disparity)를 산출하고, 산출된 변위를 이용하여 상대적인 거리인 물체의 3차원적 깊이 정보를 추출하여 픽셀별로 3차원 좌표를 추출하여 상기 물체의 3차원 공간상의 위치를 결정함으로 해서, 전자현미경으로 볼 수 있는 미세한 물체까지도 3차원적으로 분석할 수 있어, 세포를 연구하거나 각종 질환을 연구할 수 있는 기반이 되며, 각종 산업에 이용하여 정밀 산업을 더욱 활성화시킬 수 있다.