일반기술
마크 분할 검사 방법
본 발명은 마크 분할 검사 방법에 관한 것으로서, 기준 영상과 검사 영상을 각각 취득하고, 기준 영상과 검사 영상에 대해 문자 단위의 상관도를 구한 후, 상관도 값과 기설정된 제1 임계값을 비교한다. 다음으로, 상관도 값이 제1 임계값보다 큰 경우, 상기 해당 문자를 일정한 개수의 영역으로 분할하고, 분할한 영역별로 기준 영상과 검사 영상의 상관도를 구한 후, 상관도의 최대 값 및 최소 값의 차이와 기설정된 제2 임계값을 비교한다. 여기서, 상관도의 최대 값 및 최소 값의 차이가 제2 임계값보다 큰 경우 검사 영상을 불량으로 판단하고, 상관도의 최대 값 및 최소 값의 차이가 제2 임계값보다 작은 경우, 검사 영상을 정상으로 판단함으로써, 불량의 정도가 작은 마크라 할지라도 그 불량 여부를 정밀히 판단해 낼 수 있는 마크 분할 검사 방법이 개시된다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 호서대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-09-25
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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