일반기술

광섬유의 잔류응력 측정장치 및 그 방법

본 발명은 광섬유를 제작하는 과정에서 발생하는 잔류응력(Residual Stress)을 측정하기 위한 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 위상 변조기를 포함하는 간섭계와 광원의 전면부에 편광조절부를 배열하여, 광원의 편광에 따른 광섬유 축 방향의 위상 분포(Axial Phase, δz)와 광섬유 단면 방향의 위상 분포(Transverse Phase, δ⊥)를 함께 측정 가능하게 하여, 측정된 광섬유 축 방향의 위상 분포와 단면 방향의 위상 분포로부터 광섬유 내에 존재하는 잔류응력 측정하는 광섬유의 잔류응력 측정장치 및 그 방법에 관한 것이다. 이에 따른 본 발명의 광섬유의 잔류응력 측정장치는 광을 발생시키는 광 발생 부; 상기 광발생부에서 발생된 광을 평행광으로 전환하는 제1광조절부; 상기 제1광조절부에서 전환된 평행광의 편광을 광섬유 축 방향에 평행한 편광 및 광섬유 축 방향에 수직한 편광으로 변환하여 간섭계 부분에 입사시키는 편광조절부; 상기 편광조절부에 의해 편광된 평행광을 임의의 간섭패턴을 얻을 수 있도록 지연시키는 간섭계 부분; 상기 간섭계 부분을 통과한 광의 상태를 평행광으로 유지시켜 주는 제2광조절부; 및 상기 제2광조절부를 통과한 광에 의해 생기는 간섭무늬 이미지를 검출하여 측정함으로써 광섬유의 잔류응력을 측정하는 광검출 부분;를 포함하여 이루어지는 것을 특징적 구성으로 한다.