일반기술
지문영상의 품질 분류 방법 및 장치와 이를 이용한 지문영상 인식 시스템
기술 개요)o본 발명은 지문영상의 품질 분류 방법 및 장치와 이를 이용한 지문영상 인식 시스템에 관한 것으로, 지문영상의 품질 분류 방법은, (A) 지문영상을 다수개의 블록으로 분할하는 단계; (B) 상기 분할된 다수개의 블록 각각에 대하여 다수개의 지문영상 품질분류 파라미터를 계산하여 벡터화하는 단계; (C) 상기 벡터화된 지문영상 품질분류 파라미터를 기 학습된 품질 분류기에 입력하여 상기 분할된 다수개의 블록 각각에 대한 품질 판정값을 획득하는 단계; 및 (D) 상기 다수개의 블록에 각각에 대한 품질 판정값으로부터 대표값을 설정하여 상기 지문영상에 대한 품질로 결정하는 단계;로 구성된다. 따라서, 지문영상의 품질을 보다 정확히 판단할 수 있음으로 신뢰할 수 있는 지문영상 인식 시스템을 제공함기술 특징 및 대표 청구항)o(a) 지문영상을 다수개의 블록으로 분할하는 단계|(b) 상기 분할된 다수개의 블록 각각에 대하여 다수개의 지문영상 품질분류 파라미터를 계산하여 벡터화하는 단계|(c) 상기 벡터화된 지문영상 품질분류 파라미터를 기 학습된 품질 분류기에 입력하여 상기 분할된 다수개의 블록 각각에 대한 품질 판정값을 획득하는 단계| 및(d) 상기 다수개의 블록에 각각에 대한 품질 판정값으로부터 대표값을 설정하여 상기 지문영상에 대한 품질로 결정하는 단계|를 포함하는 것을 특징으로 하는 지문영상의 품질 분류 방법임
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 인하대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-12-08
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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