일반기술

정밀파면측정장치

<기술개요 및 특징>2차원 영상 데이터를 1차원 데이터로 변환하여 입사되는 시준광의 파면을 측정함.입사되는 시준광을 2차원 배열형태의 점영상으로 분할하여 이로부터 2차원 아날로그 영상신호로 획득하는 입력부와; 입력받은 영상 데이터를 저장하는 메모리와; 상기 입력부에 의해 입력받은 2차원 배열형태의 아날로그 영상신호를 2차원 디지털 영상 데이터로 변환하여 상기 메모리에 저장하는 영상저장부와; 장치 각 부분을 제어하며, 상기 메모리에 저장된 디지털 데이터로부터 시준광의 파면정보를 추출하는 제어부;를 포함하는 정밀파면측정장치에 있어서,상기 제어부가: 상기 메모리에 저장된 2차원 디지털 영상 데이터를 수직축과 수평축 방향으로 누산하여 각각 수평축 1차원 데이터와 수직축 1차원 데이터로 출력하는 1차원 투영부와; 상기 1차원 투영부에서 출력되는 수평축 1차원 데이터로부터 수평축 세부정보를 복원하고, 상기 1차원 투영부에서 출력되는 수직축 1차원 데이터로부터 수직축 세부정보를 복원하는 세부정보복원부와; 상기 세부정보복원부에서 복원되는 수평축 1차원 데이터와 수직축 1차원 데이터로부터 무게중심점을 추출하는 중심점 추출부와; 상기 중심점추출부에 추출된 무게 중심점 위치를 기준 중심점의 위치와 비교하고, 이동된 변화량을 계산하여 기울기 값에 대한 파면정보를 추출하는 기울기정보추출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 정밀파면측정장치.광의 파면을 측정하는데 있어서, 연산량을 줄여 속도가 개선된 파면측정장치를 제공함.

기술정보

기술분류
원자력 > 기타 원자력 계측·제어 기술
보유기관
한국원자력연구원
기술유형
일반기술
등록일
2008-12-17
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

관련 특허

등록된 관련 특허가 없습니다.