일반기술
변위손상을 이용하는 반도체형 중성자 탐지소자의 열화현상 방지방법 및 장치
*열화현상에 의해 발생되는 피폭 중성자 선량 정보의 손실을 방지하는 탐지방법 및 장치.*격자손상의 원리를 이용하여 중성자를 측정하는 반도체(다이오드)에서 발생되는 열화현상에 의한 피폭 중성자 선량 정보의 손실을 '최대치 유지 및 순간 증감 변화값의 선택적 누적'의 원리를 적용하여 열화에 의한 손실을 방지하도록 하는 제어방법 및 그 장치를 제공하기 위함.*본 기술은 반도체형 중성자 탐지 소자, 탐지소자 제어 및 측정용 중성자 측정기로 구성되는 장치를 제시함.
기술정보
- 기술분류
- 원자력 > 기타 방사선방호·이용 기술
- 보유기관
- 한국원자력연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-12-29
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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