일반기술

ＬＣＤ 검사용 프로브 블록

본 발명은 LCD 검사용 프로브 블록에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 TFT(Thin Film Transistor), TN(Twisted Nematic), STN(Super Twisted Nematic), CSTN(Color Super Twisted Nematic), DSTN(Double Super Twisted Nematic) 타입 등의 LCD 패널이 픽셀에러(Pixel error) 없이 정상작동하는지를 검사하는데 사용되는 LCD 검사용 프로브 블록에 관한 것이다.본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록에 의하면, 단순히 상기 세라믹바에 끼워져 적층되는 구조를 갖되, 슬릿부재에 형성된 수용부 내에 수용되어 좌우이동이 차단되는 구조를 갖는 한편, 각 탐침블레이드는 상호 독립적으로 움직이는 구조를 가지기 때문에 그 구조의 단순화를 통해 제조 비용을 절감할 수 있고, 각 탐침블레이드의 조립/분리가 용이한 이점이 있다. 또한, LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드와의 컨택을 위한 프로브 블록의 위치정렬이 다소 틀어지더라도, 상기 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드 각각에 상기 데이터채널부 신호인가군을 구성하는 복수개의 탐침블레이드 중 적어도 하나 이상이 접촉되어 테스트 신호를 인가할 수 있어, 종래 기술에서와 같은 접촉불량으로 야기되던 핀미스의 문제를 예방할 수 있는 이점이 있다.