일반기술
시료의 비선형계수의 균질성 검사 장치
본 발명은 시료의 비선형 계수의 균질성을 검사하는 검사 장치에 관한 것이다. 상기 검사 장치는 상기 검사할 시료를 배치하고 X,Y방향을 따라 이동시키는 스캐너, 상기 스캐너에 배치된 시료에 대하여 광 kerr효과에 의한 복굴절을 유도시키는 펌핑계, 상기 시료의 복굴절도를 측정하는 간섭계, 및 상기 간섭계로부터 제공되는 복굴절도를 이용하여 비선형 계수값을 계산하는 제어 컴퓨터를 구비한다.
기술정보
- 기술분류
- 기계 > 기타 기계
- 보유기관
- 서강대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-12-29
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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