일반기술

확률 모델 기반의 저전력 ＢＩＳＴ 장치 및 방법

본 기술에서 제안하는 저 전력 자체 테스트를 위한 구조를 제안하고 있다. 기존의 구조에 비해 새롭게 추가된 것은 Probability Generator 모듈인데, Probability Generator는 LFSR을 통해 생성되는 랜덤 값과 미리 정해져 있는 확률 모델을 이용하여 천이 억제 신호를 발생시키는 역할을 한다. 이러한 천이 억제 신호는 MUX의 동작을 컨트롤하는데, 이를 통해 스캔 입력 벡터의 천이 억제 여부를 결정하게 된다. 즉, Probability Generator의 출력 값이 0인 경우에는 천이가 억제된 스캔 입력 값이, 1인 경우에는 기존의 랜덤 값이 스캔 체인으로 들어간다. 본 발명에서는 고장 검출률과 전력 소모의 두 가지 요소를 최대한 만족시킬 수 있는 Probability Generator를 구현하기 위하여 확률 모델을 제시하였다. 제안하는 두 가지의 모델은 모두 선형성을 가지고, 테스트가 진행되는 동안 천이가 억제될 확률이 낮아진다는 공통점이 있다. 제안하는 확률 모델의 선형성은 카운터 모듈을 이용하여 간단히 Probability Generator를 구현할 수 있다는 장점이 된다. 그리고 테스트가 진행되는 동안 천이 억제 확률이 낮아지도록 설정한 것은 하나의 스캔 입력이 회로에 영향을 미치는 시간을 고려한 것인데, 앞선 입력일수록 스캔 체인에서 보다 오래 쉬프트 되어 많은 영향을 미치기 때문이다. 이러한 확률 모델을 적용하여 본 발명에서는 저전력 스캔구조를 제안하고자 한다. 확률 모델에 대한 값, 즉 천이 억제 확률의 정도가 카운터 모듈을 통해 n 비트로 생성되고, 이 값이 n 비트의 랜덤 값과 비교되어 Probability Generator의 출력 값이 결정된다. 앞서 설명한대로, 카운터의 값은 테스트가 진행되는 동안 점차 작아지는데, 이를 통해 천이를 억제할 확률이 점차 작아지도록 설정하였다.