일반기술

광열 효과 검출 장치

본 기술은 시료로 보낸 탐침 빛을 다시 측정 센서로 돌려 보내 감지하는 것이 아니라 시료 자체에 맺히거나 시료를 통과한 탐침 빛의 영상을 카메라로 분석하여 그 발생 신호를 검출한다. 이를 통해 분석 대상에 대한 정보를 얻는다.

기술정보

기술분류
화학 > 기타 물리화학
보유기관
연세대학교
기술유형
일반기술
등록일
2008-12-29
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

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