일반기술
광열 효과 검출 장치
본 기술은 시료로 보낸 탐침 빛을 다시 측정 센서로 돌려 보내 감지하는 것이 아니라 시료 자체에 맺히거나 시료를 통과한 탐침 빛의 영상을 카메라로 분석하여 그 발생 신호를 검출한다. 이를 통해 분석 대상에 대한 정보를 얻는다.
기술정보
- 기술분류
- 화학 > 기타 물리화학
- 보유기관
- 연세대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-12-29
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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