일반기술
평면 스캔 입자화상속도계 기법
본 발명은 평면 스캔 PIV 기법에 관한 것으로, 하나의 입자영상을 획득하기 위해서 회전 미러장치나 혹은 AOM같은 빔 스캔 장치만을 이용하여 레이저빔을 이동시켜 임의로 측정하고자 하는 특정 구간을 1~n개로 스캔하고 단일의 카메라로 대응되는 1~n개의 빔 스캔 영상을 동시에 획득하는 제 1 단계와 상기 제 1 단계 후 획득한 1~n개의 빔 스캔 영상을 부채꼴 또는 사각 형태의 2D 영상을 만들어 카메라의 영상기록면에 수직하는 평면(x, z)에서의 속도성분을 측정하는 제 2 단계를 포함하여 수행하는 것을 특징으로 하며, 하나의 카메라와 단순한 광학계를 이용하여 영상기록면에 수직인 평면에서의 속도를 측정할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 영상·음향기기
- 보유기관
- 경상대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2008-12-31
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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