일반기술
비이진 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호 방법 및 장치
□ 기술개요- 해당 기술은 비이진(non binary) 저밀도 패리티 검사(Low-Density Parity-Check; 이하 'LDPC'라 칭함) 부호를 위한 복호 방법 및 장치에 관한 것으로서, 특히 비이진 LDPC 부호를 위한 고속의 EMS(Externded Min-Sum) 복호 방법 및 장치에 관한 것이다.□ 기술특징- 비이진 LDPC 부호를 위한 EMS(Extended Min-Sum) 복호 알고리즘에 새로운 메시지 구조를 이용함으로써, 검사 노드 갱신의 연산 복잡도를 감소시키면서 동시에 성능이 열화되는 정도를 줄일 수 있는 효과가 있다.
기술정보
- 기술분류
- 정보 > 기타 정보
- 보유기관
- 한국과학기술원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2009-01-15
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
발명명칭 정보 없음
출원번호 1020080112324