일반기술
광간섭을 이용한 미소변형 측정 방법 및 장치
광 간섭을 이용한 미소 변형 측정 장치 및 방법을 개시한다. 해당 기술의 실시예에 따른 광 간섭을 이용한 미소 변형 측정 장치는, 측정 대상체의 표면에 광을 조사하여 광 간섭 영상을 생성하는 광 간섭 광학계; 상기 생성된 광 간섭 영상으로부터 차분 영상을 획득하는 차분 영상 획득부; 상기 획득된 차분 영상으로부터 위상 정보를 추출하는 단영상 위상 추출부; 상기 추출된 위상 정보로부터 3차원 위상 정보를 획득하는 3차원 위상 획득부; 및 상기 획득된 3차원 위상 정보로부터 상기 측정 대상체 표면의 변형 정보를 획득하는 3차원 변형 정보 획득부를 포함한다.
기술정보
- 기술분류
- 원자력 > 기타 원자력 계측·제어 기술
- 보유기관
- 한국원자력연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2009-02-20
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
발명명칭 정보 없음
출원번호 1020080049360