일반기술

플러그의 기하학적인 매개변수의 측정을 위한 만능시스템 GRAD-2

□ 기술개요""Grad 2"" 시스템은 회전체유형의 물품들의 기하학적인 매개변수의 비접촉 측량을 위해 고안되어졌다. □ 기술적 세부설명 ● 표준 컴퓨터를 이용한 디자인 시설들 (예를들면, AutoCAD)로 고안된 드로잉에서 물품의 기하학적인 매개변수의 측량을 위한 자동 조정. ● 오퍼레이터를 위해 적절한 형태에서 측정된 매개변수의 물품과 표시도수의 기하학적인 치수들의 자동적인 검사 ● 기하학적인 치수들의 수동 측량 ● SUBD 형태에 있는 통계정보, 접근, 마이크로소프트 Office 97의 누적; 정보 처리(예를 들면, 측정된 로트, 일간 혹은 월간 산출 등)와 검사 결과와 통계자료의 프로토콜 이슈잉. ● 시스템 자가 테스트 기술적 평가 및 경제적 이점 시스템은 품질검열, 디자이너, 생산엔지니어 및 계기측량 검열의 4개의 자동작업장으로, 설계되어 진다. 시스템은 컴퓨터를 이용한 설계 시설들을 가진 드로잉 컴포넌트에 의해 측정한 리스트를 확장할 수 있다. 드로잉은 특별프로그램을 사용하게 하고 측량 알고리듬 개발을 위해 이용된다. 검열한 제품 매개변수에 명백한 정보가 생산 기술 조정하고 검열하는데 있어 생산 엔지니어의 없어서는 안 될 필요 도구가 되게 한다. □ 응용분야회전체처럼 물품의 기하학적인 매개변수의 검사를 위한 다기능 정보와 측정 광전자 공학 시스템은 몇몇 자동화된 작업환경의 소프트웨어 프로그램에서 이용되기 위하여 설계되어 진다. 시스템은 원통 모양 부속 ( 4μm보다 많지 않은 에러와, 1에서 13 mm에 직경 범위) 및 길이 (40μm 보다 많지 않은 에러와 0.5에서 60 mm에 범위) 그리고 콘 앵글 (0.5° 보다 많지 않은 에러) 측량을 제공한다. □ 개발 단계 기업들 중 한 곳에서 시험 가동 중에 있다. 안내견본 및 기술적인 문서는 유효하다.