일반기술
깍은 면 모양측정 Holography 복합 장비- 크리스탈의 깍은 면 모양측정 및 결정화 과정 연구를 위한 홀로그래피 복합장비
고 정밀 광학 설비장치는 천연 및 인공 크리스탈의 깍은면의 모양을 측정하고 크리스탈의 성장 속도를 재며, 질량 이동을 통제하는 마이크로 규모의 크리스탈 형성 과정을 연구하기 위한 장비이다. 소개된 장비는 지질 연구소에서 낮은 매개변수 조건하의 크리스탈 생성 구조와 과정을 연구하기 위하여 일반적인 홀로그라프 간섭 복합장비(interference complex) 용의 일부로 사용되었다. 장비는 크리스탈의깍은 면과 인공 및 천연의 크리스탈 표면 경계를 연구하고, 미네랄의 상호작용 과정을 연구하고, 미세구조에서 용해되는 미네랄의 종류도 연구한다. 이 장비로 크리스탈이 성장및 용해할 때, 표면과 주변의 과정에 결함이 형성되는 과정을 포함하여 불순불 포착 등을관찰 할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 기계 > 초정밀 기술
- 보유기관
- (재)송도테크노파크
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2009-02-20
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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