일반기술

저 조사량 디지털 X 레이 설비 SIBIR-N, 대규모 환자 검사시 극도로 낮은 방사선을 사용하는 간접 촬영 기술

저 조사량 디지털 X 레이 설비는 스캐닝 방식의 저 조사량 간접촬영 기술을 응용한 장비입니다.<기술적 사양>환자 검사 시간 5 sec 방사선 조사량 ∼40 μSv 이미지의 요소 개수 ∼106 환자 인체의 요소 크기 0.35х0.35 mm 스캐닝 속도 7 cm/sec 대비 감도 1 % 동적 범위 480 <기술 평가 및 경제적 이익> 응용 패키지를 사용하면 추가 이미지 처리를 받을 수 있습니다. 필름 기술을 사용한 화상 진찰을 사용하지 않아도 됩니다. 낮은 방사선 조사량을 사용하여 입수되는 진단 정보 이미지 디지털 X 레이 설비는 간접촬영용 설비에서 얻는 이미지 보다 훨씬 더 포괄적인 이미지를 얻을 수 있습니다. 낮은 방사선을 조사하는 디지털 X 레이 설비로 검사 받는 환자들은 표준 간접촬영용 설비보다 방사선의 영향을 100배 적게 받습니다. 이 설비는 조기 진단에 사용될 수 있습니다.