일반기술

시브스캔(“SIBSCAN”) X 레이 제어 시스템

시브스캔 x 선 제어 시스템은 공항, 사무실, 은행 및 정부 건물에서 사람들이 인체 내 및 의복 속에 소지한 숨겨져 있는 위험한 물체, 물질, 무기 등을 검출하기 위한 목적으로(플라스틱 재질 포함) 설계되었습니다. 이 용도에 적합한 유일한 방법은 극소량의 x 선 제어 시스템을 사용한 X 레이 조사입니다.제안한 시스템에는 다음과 같은 기능이 포함되어 있습니다. : 고대비 감도 및 저대비 물체 검출에 필요한 다양한 범위의 감도.이 기능을 사용하면 인체 바깥쪽 물체와 인체의 불투명한 부분(내부)을 배경으로 한 물체를 모두 볼 수 있습니다. 백그라운드에서 일상 투여량과 같은 기준으로 잴 수 있는 극도로 낮은 투여량의 X 레이 방사(5 μSv 미만) 대형 사이즈 이미지 (2000х800 mm) 짧은 검사 시간 (5초 미만) 이미지 분석에 시간이 더 짧게 드는 특별 소프트웨어 (10초 미만) 검사와 관련된 불편 최소화스캐닝이 끝나면 2000 “열”로 구성된 전체 이미지가 빠른 프로세스 후 컴퓨터로 전송되며 이미지가 화면에 나타납니다. 스캐닝은 구두 바닥에서 시작되어 검사기가 균일한 조명을 받게 될 때, 즉, 검사받는 사람의 머리에 빔이 도달하면 마치게 됩니다.<기술 평가 및 경제적 이익>다른 유사품인 콘패스(“Conpass”) 및 스캐넥스(“Scannex”)와 비교할 때, 시스템의 스캐닝 시간이 2~3배 적으며, 시스템 비용이 매우 절감되면서 검사 받는 사람의 편의를 좀 더 고려한 디자인입니다.